JTAG

JTAG（Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動小組）是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、 TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 相關(guān)JTAG引腳的定義為：

JTAG協(xié)議在定義時，由于當(dāng)時的計(jì)算機(jī)（PC機(jī)）普遍帶有并口，因而在連接計(jì)算機(jī)端是定義使用的并口。而計(jì)算機(jī)到了今天，不要說筆記本電腦，現(xiàn)在臺式計(jì)算機(jī)上面有并口的都很少了，取而代之的是越來越多的USB接口。所以，目前市場上已經(jīng)很少看到它的身影了。

SWD

串行調(diào)試（Serial Wire Debug），應(yīng)該可以算是一種和JTAG不同的調(diào)試模式，使用的調(diào)試協(xié)議也應(yīng)該不一樣，所以最直接的體現(xiàn)在調(diào)試接口上，與JTAG的20個引腳相比，SWD只需要4個（或者5個）引腳，結(jié)構(gòu)簡單，但是使用范圍沒有JTAG廣泛，主流調(diào)試器上也是后來才加的SWD調(diào)試模式。

SWD和傳統(tǒng)的調(diào)試方式區(qū)別：

SWD模式比JTAG在高速模式下面更加可靠。在大數(shù)據(jù)量的情況下面JTAG下載程序會失敗，但是SWD發(fā)生的幾率會小很多。基本使用JTAG仿真模式的情況下是可以直接使用SWD模式的，只要你的仿真器支持，所以推薦大家使用這個模式。

https://blog.csdn.net/weixin_41225491/article/details/80242800

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的ARM嵌入式开发之JTAG与SWD接口的全部內(nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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